C'est un accessoire idéal pour l'analyse en réflexion spécualire de films déposés sur substrats, revêtement de surface, dépots sur surface réfléchissante etc ….
Ce système peut évoluer pour des mesures de reflectivité absolue, pour de l'échantillonnage horizontal et peut être associé au Dewar pour de la mesure à 12° en température.
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